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ホーム > ユーザーサポート > かきこみ屋さんのつぶやき > メモリデバイスの不良調査

メモリデバイスの不良調査


近年の電子機器は多様かつ大容量のデータを搭載するようになり、メモリデバイスの信頼性が
製品品質に大きく関わるようになってきました。
今回は、高価な検査機を使用しなくても必要条件さえ詰めればプログラマでも動作試験を行う
ことができる例をご紹介します。

■メモリデバイスの不良調査システム
 http://www.j-fsg.co.jp/case-study/quality-improvement/quality-002/

メモリデバイスの不良調査システム

私たちはお客様の希望する仕様を詳細にお伺いした上で開発に着手します。
今回の条件項目は、主に以下となります。

・書込み電圧
・読出し電圧
・書込み速度
・読出し速度
・テストデータパターン

条件ひとつひとつ設定と検証を繰り返すことにより、お客様の必要とされる条件の動作
試験システムを構築することができました。