グローバルナビゲーションへ

本文へ

ローカルナビゲーションへ

フッターへ


ホーム > 対応事例 > 品質向上事例 > NANDデバイスの不良調査

NANDデバイスの不良調査


業界 精密機器、家電・OA機器、携帯・通信機器
アプリケーション コピー、プリンタ、FAX、複合機など
デバイス NAND
目的・特徴 カスタム対応、品質管理
コメント この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの品質確認のための不良ブロックの確認システムです。対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能)を繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。試験内容の変更(例:ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・回数のカウントや、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求にあわせたアルゴリズム開発が可能です。
対応プログラマ AF9711、AF9724、AF9725、AG9730、AG9730B、AG9731